
这是推算机断层扫描技术领域的刷新性进取,可在维持扫描效能的同时,实现针对大型复杂工业部件的超高分辨率。
Nikon Corporation (Nikon) 为其 VOXLS 和 XT H 225 系列工业 X 射线检测系统推出了 Limited Angle CT,这是一项创新型推算机断层扫描 (CT) 技术。 这项技术可在无需对样品进行 360 度齐全旋转的情况下,实现高分辨率成像,这推动了 CT 扫描技术的发展。Limited Angle CT 可使样品更靠近 X 射线源,实现更高的放大倍率,从而可能对较大部件内部特定关注区域进行深刻检测。
这项技术进取选取了精心设计,旨在满足高端行业的需要,出格适合检测平面状态或复杂几何状态的部件,例如印刷电路板、、、软包及方壳电动汽车电池,以及碳纤维部件。借助其特有职能,制作商可能在维持高精度和高效能的同时,简化检测流程。
重要个性蕴含:
- 超高分辨率:对于拥有高纵横比或复杂几何状态的样品,可能实现更小的体素分辨率,而传统的几何放大倍率步骤令难以胜任。
- 经过优化的重建:即便在旋转角度减小的情况下,Nikon 的专有算法也能提供数据集而不会损失质量和正确性,其机能可与传统 CT 相媲美。
- 自动化操作:Nikon 的旋转中心推算职能可实现齐全自动化的扫描流程,无需人为过问,也无需定位辅助工具。
- 急剧采集:在几分钟内即可实现具体扫描,相比一致利用场景中的传统 X 射线显微镜步骤,速度要快得多。
“Limited Angle CT 拓展了我们 X 射线 CT 系统的检测能力,”Nikon 的 X 射线产品经理 Ben Morgan 暗示!八 Nikon CT 工具包中的多种先进成像技术之一。Limited Angle CT 与 X.Tend Helical CT、、、平板移动 CT、、、倾斜 CT 和 Scatter Correction CT 等其他步骤相辅相成。在系统中拥有优良的多职能性,使操作员可能为每项特定检测工作选择最相宜的技术。如今,借助 Limited Angle CT,能够对较大样品中的特定区域进行高放大倍率检测!
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